1、用于各种不同样品从毫米级到纳米级的形貌、结构研究及样品的组成成份元素分析等。

2、具有高位探测器、低位探测器，其中高位探测器能够对二次电子（SE）和背散射电子（BSE）进行选择接收，可以接收SE和BSE单独信号，也可以任意比例混合。

3、搭载数字图像记录系统，可以进行图像的处理、测量和编排实验报告、数据记录等。